Просмотр исходного текста страницы Новейшие разработки в области аналитического оборудования для исследования и контроля качества материалов

Институт Ядерной Физики СО РАН совместно с группой компаний «Научное оборудование» и компанией «Мелитэк» приглашает Вас принять участие в научно-практических семинарах на тему «Новейшие разработки в области аналитического оборудования для исследования и контроля качества материалов», «Новейшие решения для регистрации и обработки быстропротекающих процессов, требующих полосы пропускания 110 ГГц»

Место проведения: ИЯФ СО РАН, пр. Ак. Лаврентьева, 11

Даты: 19 и 20 марта 2019 года


Программа семинара «Новейшие разработки в области аналитического оборудования для исследования и контроля качества материалов» ([https://skif-wiki.biouml.org/images/0/04/Seminar_analitica_19-20mar19.pdf pdf]).

Программа семинара «Новейшие решения для регистрации и обработки быстропротекающих процессов, требующих полосы пропускания 110 ГГц» ([https://skif-wiki.biouml.org/images/9/9f/Seminar_kip_19-20mar19.pdf pdf]).

Для участия просим вас зарегистрироваться до 18 марта 2019 года

Ссылка для регистрации: [[https://indico.inp.nsk.su/event/18/registration/register#/register]]

В программе предусмотрен мастер-класс для индивидуальной работы с Вашими образцами!
	 

----
Если у Вас есть вопросы или пожелания к содержанию семинара, докладчикам, просим обращаться:

Гольденберг Борис Григорьевич: +7 (913) 719-45-37, goldenberg@ngs.ru

Хомиченко Наталья: +7 (923) 253-88-69, khomichenko@spegroup.ru


Надеемся увидеть Вас в числе гостей.

Будем рады направить дополнительную информацию и ответить на любые интересующие Вас вопросы.