http://srf-skif.ru/index.php?action=history&feed=atom&title=%D0%A2%D0%B5%D1%85%D0%BD%D0%BE%D0%BB%D0%BE%D0%B3%D0%B8%D1%87%D0%B5%D1%81%D0%BA%D0%B8%D0%B5_%D0%B8_%D0%B0%D0%BD%D0%B0%D0%BB%D0%B8%D1%82%D0%B8%D1%87%D0%B5%D1%81%D0%BA%D0%B8%D0%B5_%D0%BC%D0%B5%D1%82%D0%BE%D0%B4%D1%8B_%D0%B8_%D0%BE%D0%B1%D0%BE%D1%80%D1%83%D0%B4%D0%BE%D0%B2%D0%B0%D0%BD%D0%B8%D0%B5 2026-04-04T15:05:03Z История изменений этой страницы в вики MediaWiki 1.29.2 http://srf-skif.ru/index.php?title=%D0%A2%D0%B5%D1%85%D0%BD%D0%BE%D0%BB%D0%BE%D0%B3%D0%B8%D1%87%D0%B5%D1%81%D0%BA%D0%B8%D0%B5_%D0%B8_%D0%B0%D0%BD%D0%B0%D0%BB%D0%B8%D1%82%D0%B8%D1%87%D0%B5%D1%81%D0%BA%D0%B8%D0%B5_%D0%BC%D0%B5%D1%82%D0%BE%D0%B4%D1%8B_%D0%B8_%D0%BE%D0%B1%D0%BE%D1%80%D1%83%D0%B4%D0%BE%D0%B2%D0%B0%D0%BD%D0%B8%D0%B5&diff=175&oldid=prev 2019-02-20T04:28:25Z

<p></p> <table class="diff diff-contentalign-left" data-mw="interface"> <col class='diff-marker' /> <col class='diff-content' /> <col class='diff-marker' /> <col class='diff-content' /> <tr style='vertical-align: top;' lang='ru'> <td colspan='2' style="background-color: white; color:black; text-align: center;">← Предыдущая</td> <td colspan='2' style="background-color: white; color:black; text-align: center;">Версия 04:28, 20 февраля 2019</td> </tr><tr><td colspan="2" class="diff-lineno" id="mw-diff-left-l1" >Строка 1:</td> <td colspan="2" class="diff-lineno">Строка 1:</td></tr> <tr><td class='diff-marker'>−</td><td style="color:black; font-size: 88%; border-style: solid; border-width: 1px 1px 1px 4px; border-radius: 0.33em; border-color: #ffe49c; vertical-align: top; white-space: pre-wrap;"><div>Семинар ИЯФ</div></td><td class='diff-marker'>+</td><td style="color:black; font-size: 88%; border-style: solid; border-width: 1px 1px 1px 4px; border-radius: 0.33em; border-color: #a3d3ff; vertical-align: top; white-space: pre-wrap;"><div>Семинар ИЯФ <ins class="diffchange diffchange-inline">СО РАН</ins></div></td></tr> <tr><td class='diff-marker'>&#160;</td><td style="background-color: #f9f9f9; color: #333333; font-size: 88%; border-style: solid; border-width: 1px 1px 1px 4px; border-radius: 0.33em; border-color: #e6e6e6; vertical-align: top; white-space: pre-wrap;"></td><td class='diff-marker'>&#160;</td><td style="background-color: #f9f9f9; color: #333333; font-size: 88%; border-style: solid; border-width: 1px 1px 1px 4px; border-radius: 0.33em; border-color: #e6e6e6; vertical-align: top; white-space: pre-wrap;"></td></tr> <tr><td class='diff-marker'>&#160;</td><td style="background-color: #f9f9f9; color: #333333; font-size: 88%; border-style: solid; border-width: 1px 1px 1px 4px; border-radius: 0.33em; border-color: #e6e6e6; vertical-align: top; white-space: pre-wrap;"><div>'''Технологические и аналитические методы и оборудование''' &#160;</div></td><td class='diff-marker'>&#160;</td><td style="background-color: #f9f9f9; color: #333333; font-size: 88%; border-style: solid; border-width: 1px 1px 1px 4px; border-radius: 0.33em; border-color: #e6e6e6; vertical-align: top; white-space: pre-wrap;"><div>'''Технологические и аналитические методы и оборудование''' &#160;</div></td></tr> <!-- diff cache key skif-wiki:diff:version:1.11a:oldid:174:newid:175 --> </table>

Riv http://srf-skif.ru/index.php?title=%D0%A2%D0%B5%D1%85%D0%BD%D0%BE%D0%BB%D0%BE%D0%B3%D0%B8%D1%87%D0%B5%D1%81%D0%BA%D0%B8%D0%B5_%D0%B8_%D0%B0%D0%BD%D0%B0%D0%BB%D0%B8%D1%82%D0%B8%D1%87%D0%B5%D1%81%D0%BA%D0%B8%D0%B5_%D0%BC%D0%B5%D1%82%D0%BE%D0%B4%D1%8B_%D0%B8_%D0%BE%D0%B1%D0%BE%D1%80%D1%83%D0%B4%D0%BE%D0%B2%D0%B0%D0%BD%D0%B8%D0%B5&diff=174&oldid=prev 2019-02-20T04:27:29Z

<p>Новая страница: «Семинар ИЯФ &#039;&#039;&#039;Технологические и аналитические методы и оборудование&#039;&#039;&#039; Дата проведения…»</p> <p><b>Новая страница</b></p><div>Семинар ИЯФ<br /> <br /> '''Технологические и аналитические методы и оборудование''' <br /> <br /> Дата проведения: 21 февраля 2019 г. (четверг), в 14-00 <br /> <br /> Место проведения: просп. Академика Лаврентьева 11, Институт Ядерной Физики, зал теор. отдела, пристройка гл. зд. к.600-б.<br /> <br /> Темы докладов семинара:<br /> <br /> 1. Реализации технологических процессов физического и плазмохимического травления и осаждения на системах Oxford Instruments Plasma Technology и Scientific Vacuum Systems с целью создания высокоаспектных микроструктур. (40 мин)<br /> приглашенный докладчик: Крынин Александр, к.т.н., ФГУП «ВИАМ», Москва, (ООО «Техноинфо»), e-mail: a.krynin@technoinfo.ru<br /> <br /> 2. Особенности современных литографических методов и оборудования для формирования рисунка на фото- и электронном резисте. (40 мин)<br /> приглашенный докладчик: Куваев Константин, ФТИАН РАН, Москва, (ООО «Техноинфо»),e-mail: k.kuvaev@technoinfo.ru<br /> <br /> 3. Современные возможности электронной микроскопии в материаловедении. Решения Thermo Fisher Scientific. (40 мин)<br /> приглашенный докладчик: Бондаренко Антон, к.т.н., СПбГУ, Санкт-Петербург, (ООО «Техноинфо»), e-mail: a.bondarenko@technoinfo.ru<br /> <br /> 4. Последние достижения методов рентгеновской дифракции и фазового анализа на примере многофункциональных дифрактометров компании Rigaku. (40 мин)<br /> приглашенный докладчик: Корнейчик Олег, ТГУ, Тюмень, (ООО «Техноинфо»), e-mail: o.korneychik@technoinfo.ru<br /> <br /> 5. Флуоресцентная спектроскопия и микроскопия в биофизике. Оборудование PicoQuant. Что нового в 2019 году? (20 мин)<br /> приглашенный докладчик: Плешков Дмитрий, ООО «Техноинфо», Москва, e-mail: d.pleshkov@technoinfo.ru<br /> <br /> Организатор: Гольденберг Б.Г., ИЯФ СО РАН, сек. 8-21, тел. 329-4697, e-mail: goldenberg@inp.nsk.su<br /> <br /> Для подготовки пропуска в ИЯФ, пожалуйста, сообщите свои ФИО и организацию на goldenberg@inp.nsk.su до 9-00 21 февраля 2019</div>

Riv