Технологические и аналитические методы и оборудование — различия между версиями

Текущая версия на 11:28, 20 февраля 2019

Семинар ИЯФ СО РАН

Технологические и аналитические методы и оборудование

Дата проведения: 21 февраля 2019 г. (четверг), в 14-00

Место проведения: просп. Академика Лаврентьева 11, Институт Ядерной Физики, зал теор. отдела, пристройка гл. зд. к.600-б.

Темы докладов семинара:

1. Реализации технологических процессов физического и плазмохимического травления и осаждения на системах Oxford Instruments Plasma Technology и Scientific Vacuum Systems с целью создания высокоаспектных микроструктур. (40 мин) приглашенный докладчик: Крынин Александр, к.т.н., ФГУП «ВИАМ», Москва, (ООО «Техноинфо»), e-mail: a.krynin@technoinfo.ru

2. Особенности современных литографических методов и оборудования для формирования рисунка на фото- и электронном резисте. (40 мин) приглашенный докладчик: Куваев Константин, ФТИАН РАН, Москва, (ООО «Техноинфо»),e-mail: k.kuvaev@technoinfo.ru

3. Современные возможности электронной микроскопии в материаловедении. Решения Thermo Fisher Scientific. (40 мин) приглашенный докладчик: Бондаренко Антон, к.т.н., СПбГУ, Санкт-Петербург, (ООО «Техноинфо»), e-mail: a.bondarenko@technoinfo.ru

4. Последние достижения методов рентгеновской дифракции и фазового анализа на примере многофункциональных дифрактометров компании Rigaku. (40 мин) приглашенный докладчик: Корнейчик Олег, ТГУ, Тюмень, (ООО «Техноинфо»), e-mail: o.korneychik@technoinfo.ru

5. Флуоресцентная спектроскопия и микроскопия в биофизике. Оборудование PicoQuant. Что нового в 2019 году? (20 мин) приглашенный докладчик: Плешков Дмитрий, ООО «Техноинфо», Москва, e-mail: d.pleshkov@technoinfo.ru

Организатор: Гольденберг Б.Г., ИЯФ СО РАН, сек. 8-21, тел. 329-4697, e-mail: goldenberg@inp.nsk.su

Для подготовки пропуска в ИЯФ, пожалуйста, сообщите свои ФИО и организацию на goldenberg@inp.nsk.su до 9-00 21 февраля 2019