Мероприятия — различия между версиями

Материал из srf-skif
Перейти к: навигация, поиск
(Семинары)
Строка 8: Строка 8:
  
 
27 марта 2019 г. [[РФЭС-спектрометры компании SPECS]]
 
27 марта 2019 г. [[РФЭС-спектрометры компании SPECS]]
 +
 +
21-22 марта 2019 г. [http://www.inp.nsk.su/sobytia/nauchnye-sessii/2019 Расширенное заседание НКС ЦКП "СКИФ"]
  
 
19-20 марта 2019 г. [[Новейшие разработки в области аналитического оборудования для исследования и контроля качества материалов]]
 
19-20 марта 2019 г. [[Новейшие разработки в области аналитического оборудования для исследования и контроля качества материалов]]

Версия 09:10, 2 июня 2019

Семинары

15 апреля 2019 г. Для чего нужны синхротронные источники?

10 апреля 2019 г. Геодезическое сопровождение проекта «СКИФ»

27 марта 2019 г. РФЭС-спектрометры компании SPECS

21-22 марта 2019 г. Расширенное заседание НКС ЦКП "СКИФ"

19-20 марта 2019 г. Новейшие разработки в области аналитического оборудования для исследования и контроля качества материалов

6 марта 2019 г. Применение синхротронного излучения для определения коэффициентов подвижности кислорода в оксидных системах

21 февраля 2019 г. Технологические и аналитические методы и оборудование

18 февраля 2019 г. Реализация методов малоуглового рентгеновского рассеяния с использованием СИ

Школы

5-6 декабря 2018 г. Цикл научных школ для молодых специалистов "Установки Mega-science для фундаментальных и прикладных исследований"

Выездные совещания

1-3 апреля 2019 г. Cовещание в ИФ СО РАН (г. Красноярск) по обсуждению сотрудничества в рамках реализации проекта ЦКП "СКИФ"

25 февраля 2019 г. Семинар в ИПХЭТ СО РАН (г. Бийск) по обсуждению сотрудничества в рамках реализации проекта ЦКП "СКИФ"

28-29 января 2019 г. Cовещание в ТГУ (г. Томск) по обсуждению сотрудничества в рамках реализации проекта ЦКП "СКИФ"